LCP-25 Eksperimental nga Ellipsometer
Pasiuna
Ang manwal nga elliptical polarimeter naggamit pamaagi sa pagkapuo aron masukod ang gibag-on ug repraktibo nga indeks sa pelikula, ug kamut nga nagkontrol sa anggulo sa pagtipas ug pagtipas sa proseso sa pagsulay. Ang Ellipsometry kaylap nga gigamit sa pagsukol sa dielectric manipis nga pelikula sa solidong substrate. Sa pamaagi sa pagsukot sa gibag-on sa pelikula, masukod kini sa labing manipis ug labing kataas nga katukma.
Mga detalye
| Paghulagway | Mga detalye |
| Sakup sa Sukat sa Sukat | 1 nm ~ 300 nm |
| Sakop sa Angulo sa Insidente | 30º ~ 90º, Sayop ≤ 0.1º |
| Angulo sa Polarizer ug Analyzer Intersection | 0º ~ 180º |
| Disk Angular Scale | 2º matag sukdanan |
| Min. Pagbasa sa Vernier | 0.05º |
| Taas sa Optical Center | 152 mm |
| Diameter sa Trabaho sa Entablado | Φ 50 mm |
| Kinatibuk-ang Sukat | 730x230x290 mm |
| Gibug-aton | Gibanabana nga 20 kg |
Lista sa Bahin
| Paghulagway | Qty |
| Yunit sa Ellipsometer | 1 |
| He-Ne Laser | 1 |
| Photoelectric Amplifier | 1 |
| Photo Cell | 1 |
| Silica Film sa Silicon Substrate | 1 |
| Pagsusi sa Software CD | 1 |
| Manwal sa Panudlo | 1 |
Isulat ang imong mensahe dinhi ug ipadala kini kanamo
