LCP-25 Eksperimental nga Ellipsometer

Mubo nga Deskripsyon:

Ang manual elliptical polarimeter naggamit sa extinction method aron masukod ang gibag-on ug refractive index sa film, ug mano-mano nga gi-regulate ang deviation ug deviation angle sa test process. Ang Ellipsometry kay kaylap nga gigamit sa pagsukod sa dielectric thin film sa solid substrate. Sa pamaagi sa pagsukod sa gibag-on sa film, masukod kini sa pinakanipis ug pinakataas nga katukma.

Padad-i kami og email

Detalye sa Produkto

Mga Tag sa Produkto

Mga Espesipikasyon

Deskripsyon	Mga Espesipikasyon
Sakop sa Pagsukod sa Gibag-on	1 nm ~ 300 nm
Sakup sa Anggulo sa Pag-abot	30º ~ 90º, Sayop ≤ 0.1º
Anggulo sa Interseksyon sa Polarizer ug Analyzer	0º ~ 180º
Sukod sa Angular sa Disk	2º matag sukdanan
Min. nga Pagbasa sa Vernier	0.05º
Gitas-on sa Sentro sa Optikal	152 milimetro
Diametro sa Yugto sa Trabaho	Φ 50 mm
Kinatibuk-ang mga Dimensyon	730x230x290 milimetro
Timbang	Gibana-bana nga 20 kg

Lista sa Bahin

Deskripsyon	Gidaghanon
Yunit sa Ellipsometer	1
He-Ne Laser	1
Photoelectric Amplifier	1
Photo Cell	1
Silica Film sa Silicon Substrate	1
CD sa Software sa Pag-analisar	1
Manwal sa Instruksyon	1